功率半導體元件加速壽命測試

SEM測試是一種可配置的應(yīng)力篩選系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于執(zhí)行功率半導體元件和包IGBT、 MOSFET、SCR、二極管和二級元件的模塊加速壽命測試。該系統(tǒng)對想獲得優(yōu)質(zhì)的商業(yè)現(xiàn)貨功率半導

SEM測試的核心是能為每個客戶的獨特測試需求進行配置的靈活架構(gòu)。系統(tǒng)可以從20到4000個甚至更多的測試儲存單元進行配置。每個單元以自己的本地控制器為特征對應(yīng)用的或UUT（被測單元）功率和其它測試參數(shù)進行設(shè)置和監(jiān)測。每個單元還包含用于溫度、電流、電壓和計時的測量單位，使加快單獨設(shè)備的故障機制和確定功能運行極限的完全鑒定和生產(chǎn)測試成為可能

SEM測試是一種可配置的應(yīng)力篩選系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于執(zhí)行功率半導體元件和包含IGBT、 MOSFET、SCR、二極管和二級元件的模塊加速壽命測試。該系統(tǒng)對想獲得優(yōu)質(zhì)的商業(yè)現(xiàn)貨功率半導體元件制造商和用戶具有理想效果，這些設(shè)備將用于高可靠性的自動化、運輸、航空、國防、工業(yè)和醫(yī)療系統(tǒng)。  

1.用于被測設(shè)備的熱應(yīng)力和電應(yīng)力的功率循環(huán) 
2.具有用戶定義的警報和控制限制的趨勢監(jiān)測 
3.快速的設(shè)備溫度循環(huán)和環(huán)境溫度曲線繪制 
4.測量接點溫度 
5.檢測初期故障并自動傳送警報
測試配置通過友好的圖形用戶界面進行快速編程。每個測試單元的安裝和測量都顯示在屏幕上，并被輸出到SQL數(shù)據(jù)庫進行快速的測試中和測試后分析。